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精神分裂症患者脑突触连接损失呈现有序模式

Rutgers大学研究团队使用PET脑成像技术对122人进行了研究,其中29人被诊断为精神分裂症,这是迄今规模最大的突触密度脑成像研究之一1。研究发现,精神分裂症患者脑内存在广泛的突触连接减少现象,且损失遵循有组织的模式,左半脑受到的损伤程度明显高于右半脑1。

这些突触损失最严重的脑区富含血清素、γ-氨基丁酸和谷氨酸等神经递质的高浓度受体1。通过计算机模拟脑的结构连接,研究人员识别出左前额叶可能是突触损失的起始点1。研究已发表于《Molecular Psychiatry》期刊1。Rutgers大学研究人员Avram Holmes表示:"这种详细的突触脆弱性映射最终可能帮助确定在哪里以及如何干预以保护或恢复脑功能"1。


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